Dia300x1.0mmt Kalınlık Safir Gofret C-Düzlemi SSP/DSP

Dia300x1.0mmt Kalınlık Safir Gofret C-Plane SSP/DSP Öne Çıkan Resim

Kısa Açıklama:

Shanghai Xinkehui New Material Co., Ltd., çeşitli yüzey yönelimlerine (c, r, a ve m-düzlemi) sahip safir levhalar üretebilir ve kesim açısını 0,1 derece dahilinde kontrol edebilir.Tescilli teknolojimizi kullanarak, epitaksiyel büyüme ve levha yapıştırma gibi uygulamalar için gereken yüksek kaliteyi elde edebiliyoruz.

Bize e-posta gönder

Ürün ayrıntısı

Ürün etiketleri

Gofret kutusunun tanıtılması

Kristal Malzemeler	%99,999 Al2O3, Yüksek Saflıkta, Monokristal, Al2O3
Kristal kalitesi	Kapanımlar, blok işaretleri, ikizler, Renk, mikro kabarcıklar ve dağılma merkezleri mevcut değil
Çap	2 inç	3 inç	4 inç	6 inç ~ 12 inç
Çap	50,8±0,1 mm	76,2±0,2 mm	100±0,3 mm	Standart üretim hükümlerine uygun olarak
Kalınlık	430±15μm	550±15μm	650±20μm	Müşteri tarafından özelleştirilebilir
Oryantasyon	C-düzlemi (0001) ila M-düzlemi (1-100) veya A-düzlemi (1 1-2 0) 0,2±0,1° /0,3±0,1°, R-düzlemi (1-1 0 2), A-düzlemi (1 1-2 0 ), M-düzlemi(1-1 0 0), Herhangi Bir Yönelim, Herhangi bir açı
Birincil düz uzunluk	16,0±1 mm	22,0±1,0 mm	32,5±1,5 mm	Standart üretim hükümlerine uygun olarak
Birincil düz Yönelim	A düzlemi (1 1-2 0) ± 0,2°
TTV	≤10μm	≤15μm	≤20μm	≤30μm
YBD	≤10μm	≤15μm	≤20μm	≤30μm
TIR	≤10μm	≤15μm	≤20μm	≤30μm
YAY	≤10μm	≤15μm	≤20μm	≤30μm
Çözgü	≤10μm	≤15μm	≤20μm	≤30μm
Ön Yüzey	Epi-Cilalı (Ra< 0.2nm)

*Yay: Serbest, sıkıştırılmamış bir levhanın orta yüzeyinin merkez noktasının, referans düzleminin bir eşkenar üçgenin üç köşesi tarafından tanımlandığı referans düzleminden sapması.

*Çarpıklık: Serbest, sıkıştırılmamış bir levhanın orta yüzeyinin yukarıda tanımlanan referans düzleminden maksimum ve minimum mesafeleri arasındaki fark.

Yeni nesil yarı iletken cihazlar ve epitaksiyel büyüme için yüksek kaliteli ürünler ve hizmetler:

Yüksek derecede düzlük (kontrollü TTV, yay, çözgü vb.)

Yüksek kaliteli temizlik (düşük partikül kirliliği, düşük metal kirliliği)

Alt tabaka delme, kanal açma, kesme ve arka yüzey parlatma

Alt tabakanın temizliği ve şekli gibi verilerin eklenmesi (isteğe bağlı)

Safir yüzeylere ihtiyacınız varsa lütfen iletişime geçmekten çekinmeyin:

posta:eric@xkh-semitech.com+86 158 0194 2596 /doris@xkh-semitech.com+86 187 0175 6522

En kısa sürede size geri döneceğiz!