Dia300x1.0mmt Kalınlık Safir Wafer C-Plane SSP/DSP
Wafer kutusunun tanıtımı
Kristal Malzemeler | %99,999 Al2O3, Yüksek Saflıkta, Monokristalin, Al2O3 | |||
Kristal kalitesi | Dahil etmeler, blok işaretleri, ikizler, Renk, mikro kabarcıklar ve dağılma merkezleri mevcut değildir | |||
Çap | 2 inç | 3 inç | 4 inç | 6 inç ~ 12 inç |
50,8± 0,1 mm | 76,2 ± 0,2 mm | 100±0,3 mm | Standart üretim hükümlerine uygun olarak | |
Kalınlık | 430±15µm | 550±15µm | 650±20µm | Müşteri tarafından özelleştirilebilir |
Oryantasyon | C düzlemi (0001) ila M düzlemi (1-100) veya A düzlemi (1 1-2 0) 0,2±0,1° /0,3±0,1°, R düzlemi (1-1 0 2), A düzlemi (1 1-2 0), M düzlemi (1-1 0 0), Herhangi bir Yönlendirme, Herhangi bir açı | |||
Birincil düz uzunluk | 16,0±1mm | 22,0±1,0 mm | 32,5±1,5 mm | Standart üretim hükümlerine uygun olarak |
Birincil düz Yönlendirme | A düzlemi (1 1-2 0 ) ± 0,2° | |||
Tv | ≤10µm | ≤15µm | ≤20µm | ≤30µm |
Ömür boyu fayda | ≤10µm | ≤15µm | ≤20µm | ≤30µm |
TIR | ≤10µm | ≤15µm | ≤20µm | ≤30µm |
YAY | ≤10µm | ≤15µm | ≤20µm | ≤30µm |
Çarpıtma | ≤10µm | ≤15µm | ≤20µm | ≤30µm |
Ön Yüzey | Epi-Cilalı (Ra< 0.2nm) |
*Yay: Serbest, kelepçelenmemiş bir gofretin medyan yüzeyinin merkez noktasının referans düzleminden sapması, referans düzlemi eşkenar üçgenin üç köşesi ile tanımlanır.
*Çarpıklık: Yukarıda tanımlanan referans düzleminden serbest, kelepçelenmemiş bir gofretin medyan yüzeyinin maksimum ve minimum uzaklıkları arasındaki fark.
Yeni nesil yarı iletken cihazlar ve epitaksiyel büyüme için yüksek kaliteli ürünler ve hizmetler:
Yüksek derecede düzlük (kontrollü TTV, yay, çözgü vb.)
Yüksek kaliteli temizlik (düşük partikül kontaminasyonu, düşük metal kontaminasyonu)
Alt tabaka delme, kanal açma, kesme ve arka yüzey parlatma
Alt tabakanın temizliği ve şekli gibi verilerin eklenmesi (isteğe bağlı)
Safir alt tabakalara ihtiyacınız varsa lütfen bizimle iletişime geçmekten çekinmeyin:
posta:eric@xkh-semitech.com+86 158 0194 2596 /doris@xkh-semitech.com+86 187 0175 6522
En kısa sürede size geri dönüş yapacağız!
Ayrıntılı Diyagram

