N Tipi SiC, Si Kompozit Alt Tabakalar Üzerinde, Çap 6 inç
| 等级Seviye | Sen | P级 | D级 |
| Düşük BPD Derecesi | Üretim Kalitesi | Sahte Not | |
| 直径Çap | 150,0 mm ± 0,25 mm | ||
| 厚度Kalınlık | 500 μm±25μm | ||
| fotoğrafYonga Levha Yönlendirmesi | Eksen dışı: 4,0° < 11-20 > yönüne doğru ±0,5° (4H-N için) Eksen üzerinde: <0001> ±0,5° (4H-SI için) | ||
| 主定位边方向Birincil Daire | {10-10}±5.0° | ||
| 主定位边长度Birincil Düz Uzunluk | 47,5 mm ± 2,5 mm | ||
| 边缘Kenar dışlama | 3 mm | ||
| 总厚度变化/弯曲度/翘曲度 TTV/Yay /Warp | ≤15μm /≤40μm /≤60μm | ||
| 微管密度和基面位错MPD&BPD | MPD≤1 cm-2 | MPD≤5 cm-2 | MPD≤15 cm-2 |
| BPD≤1000cm-2 | |||
| fotoğrafDirenç | ≥1E5 Ω·cm | ||
| Amerika Birleşik DevletleriPürüzlülük | Polonya Ra≤1 nm | ||
| CMP Ra≤0,5 nm | |||
| 裂纹(强光灯观测) # | Hiçbiri | Toplam uzunluk ≤10 mm, tek uzunluk ≤2 mm | |
| Yüksek yoğunluklu ışık nedeniyle oluşan çatlaklar | |||
| 六方空洞(强光灯观测)* | Kümülatif alan ≤%1 | Kümülatif alan ≤%5 | |
| Yüksek yoğunluklu ışıkla altıgen plakalar | |||
| 多型(强光灯观测)* | Hiçbiri | Kümülatif alan ≤ %5 | |
| Yüksek yoğunluklu ışıkla politip alanları | |||
| 划痕(强光灯观测)*& | 1x gofret çapına 3 çizik | 1x gofret çapına 5 çizik | |
| Yüksek yoğunluklu ışıktan kaynaklanan çizikler | kümülatif uzunluk | kümülatif uzunluk | |
| 崩边# Kenar yongası | Hiçbiri | 5 adede kadar izin verilir, her biri ≤1 mm. | |
| 表面污染物(强光灯观测) | Hiçbiri | ||
| Yüksek yoğunluklu ışıkla kirlenme | |||
Ayrıntılı Diyagram

