Özelleştirilmiş SiC Tohum Kristal Alt Tabakaları Dia 205/203/208 4H-N Tipi Optik İletişim için

Kısa Açıklama:

Üçüncü nesil yarı iletken malzemelerin çekirdek taşıyıcıları olan SiC (silisyum karbür) tohum kristal alt tabakaları, yüksek termal iletkenliklerini (4,9 W/cm·K), ultra yüksek bozulma alanı mukavemetlerini (2–4 MV/cm) ve geniş bant aralığını (3,2 eV) kullanarak optoelektronik, yeni enerji araçları, 5G iletişimleri ve havacılık uygulamaları için temel malzemeler olarak hizmet eder. Fiziksel buhar iletimi (PVT)​​ ve sıvı faz epitaksi (LPE) gibi gelişmiş üretim teknolojileri sayesinde XKH, 0,3 cm⁻²'nin altında mikro boru yoğunlukları, 20–23 mΩ·cm aralığında özdirenç ve <0,2 nm yüzey pürüzlülüğü (Ra) ile 2–12 inçlik gofret formatlarında 4H/6H-N tipi, ​​yarı yalıtkan ve 3C-SiC politipi tohum alt tabakaları sağlar. Hizmetlerimiz arasında heteroepitaksiyel büyüme (örneğin, SiC-on-Si), nanometre ölçeğinde hassas işleme (±0,1 μm tolerans) ve küresel hızlı teslimat yer almakta olup, müşterilerimizin teknik engelleri aşmalarına ve karbon nötrlüğünü ve akıllı dönüşümü hızlandırmalarına olanak sağlamaktadır.


  • :
  • Özellikler

    Teknik parametreler

    Silisyum karbür tohum gofreti

    Politip

    4H

    Yüzey yönelim hatası

    4°'ye doğru<11-20>±0,5º

    Dirençlilik

    özelleştirme

    Çap

    205±0,5 mm

    Kalınlık

    600±50μm

    Pürüzlülük

    CMP,Ra≤0.2nm

    Mikroboru Yoğunluğu

    ≤1 adet/cm2

    Çizikler

    ≤5,Toplam Uzunluk≤2*Çap

    Kenar talaşları/girintileri

    Hiçbiri

    Ön lazer markalama

    Hiçbiri

    Çizikler

    ≤2,Toplam Uzunluk≤Çap

    Kenar talaşları/girintileri

    Hiçbiri

    Politip alanları

    Hiçbiri

    Arka lazer markalama

    1mm (üst kenardan)

    Kenar

    Pah kırma

    Ambalajlama

    Çoklu gofret kaseti

    Temel Özellikler

    1. Kristal Yapı ve Elektriksel Performans

    · Kristalografik Kararlılık: %100 4H-SiC politipi hakimiyeti, sıfır çok kristalli kapanım (örneğin, 6H/15R), XRD salınım eğrisi tam genişlikte yarı maksimumda (FWHM) ≤32,7 yay saniyesi.

    · Yüksek Taşıyıcı Hareketliliği: 5.400 cm²/V·s (4H-SiC) elektron hareketliliği ve 380 cm²/V·s delik hareketliliği, yüksek frekanslı cihaz tasarımlarına olanak tanır.

    ·Radyasyon Sertliği: 1×10¹⁵ n/cm²'lik bir yer değiştirme hasarı eşiği ile 1 MeV nötron ışınımına dayanır, havacılık ve nükleer uygulamalar için idealdir.

    2. Termal ve Mekanik Özellikler

    · Olağanüstü Isıl İletkenlik: 4,9 W/cm·K (4H-SiC), silisyumun üç katı, 200°C'nin üzerinde çalışmayı destekler.

    · Düşük Termal Genleşme Katsayısı: 4,0×10⁻⁶/K (25–1000°C) CTE, silikon bazlı ambalajlarla uyumluluğu garanti altına alır ve termal stresi en aza indirir.

    3. Kusur Kontrolü ve İşleme Hassasiyeti

    · Mikro Boru Yoğunluğu: <0,3 cm⁻² (8 inçlik gofretler), çıkık yoğunluğu <1.000 cm⁻² (KOH aşındırma yoluyla doğrulanmıştır).

    · Yüzey Kalitesi: Ra <0,2 nm'ye kadar CMP ile cilalanmış, EUV litografi sınıfı düzlük gereksinimlerini karşılamaktadır.

    Temel Uygulamalar

     

    ​​Alan​​

    ​​Uygulama Senaryoları​​

    ​​Teknik Avantajlar​​

    ​​Optik İletişim​​

    100G/400G lazerler, silikon fotonik hibrit modülleri

    InP tohum substratları, optik kuplaj kaybını azaltarak doğrudan bant aralığına (1,34 eV) ve Si bazlı heteroepitaksiye olanak tanır.

    ​​Yeni Enerji Araçları​​

    800V yüksek voltajlı invertörler, yerleşik şarj cihazları (OBC)

    4H-SiC alt tabakaları >1.200 V'a dayanıklıdır, bu da iletim kayıplarını %50, sistem hacmini ise %40 azaltır.

    ​​5G İletişimleri​​

    Milimetre dalga RF cihazları (PA/LNA), baz istasyonu güç amplifikatörleri

    Yarı yalıtkan SiC alt tabakaları (özdirenç >10⁵ Ω·cm), yüksek frekanslı (60 GHz+) pasif entegrasyona olanak tanır.

    ​​Endüstriyel Ekipman​​

    Yüksek sıcaklık sensörleri, akım trafoları, nükleer reaktör monitörleri

    InSb tohum substratları (0,17 eV bant aralığı) 10 T'de %300'e kadar manyetik hassasiyet sağlar.

     

    Temel Avantajlar

    SiC (silisyum karbür) çekirdek kristal alt tabakaları, 4,9 W/cm·K termal iletkenlik, 2–4 MV/cm kırılma alanı dayanımı ve 3,2 eV genişliğinde bant aralığıyla benzersiz bir performans sunarak yüksek güç, yüksek frekans ve yüksek sıcaklık uygulamalarına olanak tanır. Sıfır mikro boru yoğunluğu ve <1.000 cm⁻² dislokasyon yoğunluğuna sahip olan bu alt tabakalar, zorlu koşullarda güvenilirlik sağlar. Kimyasal ataletleri ve CVD uyumlu yüzeyleri (Ra <0,2 nm), optoelektronik ve elektrikli araç güç sistemleri için gelişmiş heteroepitaksiyel büyümeyi (örneğin, SiC-on-Si) destekler.

    XKH Hizmetleri:

    1. Özelleştirilmiş Üretim​​

    · Esnek Gofret Formatları: Dairesel, dikdörtgen veya özel şekilli kesimlere sahip 2–12 inç gofretler (±0,01 mm tolerans).

    · Doping Kontrolü: CVD yoluyla hassas azot (N) ve alüminyum (Al) dopingi, 10⁻³ ila 10⁶ Ω·cm arasında direnç aralıklarına ulaşılması. 

    2. İleri Proses Teknolojileri​​

    · Heteroepitaxy: SiC-on-Si (8 inçlik silikon hatlarla uyumlu) ve SiC-on-Elmas (ısı iletkenliği >2.000 W/m·K).

    · Kusur Azaltma: Mikro boru/yoğunluk kusurlarını azaltmak için hidrojen aşındırma ve tavlama, yonga verimini %95'in üzerine çıkarır. 

    3. Kalite Yönetim Sistemleri​​

    · Uçtan Uca Test: Raman spektroskopisi (politip doğrulaması), XRD (kristallik) ve SEM (kusur analizi).

    · Sertifikalar: AEC-Q101 (otomotiv), JEDEC (JEDEC-033) ve MIL-PRF-38534 (askeri sınıf) ile uyumludur. 

    4. Küresel Tedarik Zinciri Desteği​​

    · Üretim Kapasitesi: Aylık üretim >10.000 adet gofret (%60'ı 8 inç), 48 saatlik acil teslimat.

    · Lojistik Ağı: Sıcaklık kontrollü paketleme ile hava/deniz taşımacılığı ile Avrupa, Kuzey Amerika ve Asya-Pasifik'te kapsama alanı. 

    5. Teknik Ortak Geliştirme​​

    · Ortak Ar-Ge Laboratuvarları: SiC güç modülü paketleme optimizasyonu konusunda işbirliği yapın (örneğin, DBC alt tabaka entegrasyonu).

    · IP Lisanslama: Müşteri Ar-Ge maliyetlerini düşürmek için GaN-on-SiC RF epitaksiyel büyüme teknolojisi lisanslaması sağlayın.

     

     

    Özet

    Stratejik bir malzeme olan SiC (silisyum karbür) çekirdek kristal alt tabakaları, kristal büyütme, kusur kontrolü ve heterojen entegrasyondaki atılımlarla küresel endüstriyel zincirleri yeniden şekillendiriyor. Gofret kusur azaltmayı sürekli geliştirerek, 8 inçlik üretimi ölçeklendirerek ve heteroepitaksiyel platformları (örneğin, Elmas Üzerinde SiC) genişleterek, XKH optoelektronik, yeni enerji ve ileri üretim için yüksek güvenilirlikli ve uygun maliyetli çözümler sunuyor. İnovasyona olan bağlılığımız, müşterilerimizin karbon nötrlüğü ve akıllı sistemlerde lider olmasını sağlayarak, geniş bant aralıklı yarı iletken ekosistemlerinin yeni çağını yönlendiriyor.

    SiC tohum gofreti 4
    SiC tohum gofreti 5
    SiC tohum gofreti 6

  • Öncesi:
  • Sonraki:

  • Mesajınızı buraya yazın ve bize gönderin