8 inç Silikon gofret P/N tipi (100) 1-100Ω sahte geri kazanım alt tabakası

Kısa Açıklama:

Çift taraflı cilalanmış wafer'lardan oluşan geniş bir stokumuz mevcuttur; tüm wafer'lar 50 ila 400 mm çap aralığındadır. Eğer istediğiniz özelliklere sahip bir wafer stoklarımızda mevcut değilse, her türlü özel spesifikasyona uygun wafer'lar üretebilen birçok tedarikçiyle uzun vadeli ilişkiler kurduk. Çift taraflı cilalanmış wafer'lar, yarı iletken endüstrisinde yaygın olarak kullanılan silikon, cam ve diğer malzemeler için kullanılabilir.

Bize e-posta gönderin

Özellikler

Yonga kutusunun tanıtımı

8 inçlik silikon levha, yaygın olarak kullanılan bir silikon altlık malzemesidir ve entegre devrelerin üretim sürecinde geniş çapta kullanılır. Bu tür silikon levhalar, mikroişlemciler, bellek yongaları, sensörler ve diğer elektronik cihazlar dahil olmak üzere çeşitli entegre devre türlerinin yapımında yaygın olarak kullanılır. 8 inçlik silikon levhalar, nispeten büyük boyutlu yongaların yapımında yaygın olarak kullanılır ve daha büyük yüzey alanı ve tek bir silikon levha üzerinde daha fazla yonga üretme yeteneği gibi avantajlara sahiptir, bu da üretim verimliliğini artırır. 8 inçlik silikon levha ayrıca, büyük ölçekli entegre devre üretimi için uygun olan iyi mekanik ve kimyasal özelliklere sahiptir.

Ürün özellikleri

8" P/N tipi, Parlatılmış silikon levha (25 adet)

Yönlendirme: 200

Öz direnç: 0,1 - 40 ohm•cm (Partiye göre değişiklik gösterebilir)

Kalınlık: 725+/-20 µm

Birincil/Monitör/Test Sınıfı

MALZEME ÖZELLİKLERİ

Parametre	Özellik
Tip/Katkı Maddesi	P, Boron N, Fosfor N, Antimon N, Arsenik
Oryantasyonlar	<100>, <111> dilimleme yönlendirmeleri müşterinin özelliklerine göre
Oksijen İçeriği	10¹⁹ppmA Müşteri spesifikasyonuna göre özel toleranslar
Karbon İçeriği	< 0,6 ppmA

MEKANİK ÖZELLİKLER

Parametre	Astar vurmak	Monitör/Test A	Test
Çap	200±0,2 mm	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,5 mm
Kalınlık	725±20µm (standart)	725±25µm (standart) 450±25µm 625±25µm 1000±25µm 1300±25µm 1500±25 µm	725±50µm (standart)
TTV	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
Yay	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Dürüm	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Kenar Yuvarlama	YARI STANDART
İşaretleme	Birincil Yarı Düz Sadece, Yarı Standart Düz Jeida Düz, Çentikli

Parametre	Astar vurmak	Monitör/Test A	Test
Ön Yüz Kriterleri
Yüzey durumu	Kimyasal Mekanik Parlatılmış	Kimyasal Mekanik Parlatılmış	Kimyasal Mekanik Parlatılmış
Yüzey Pürüzlülüğü	< 2 A°	< 2 A°	< 2 A°
Kirlenme Parçacıklar@ >0,3 µm	= 20	= 20	= 30
Pus, Çukurlar Portakal kabuğu	Hiçbiri	Hiçbiri	Hiçbiri
Testere, İşaretler Çizgiler	Hiçbiri	Hiçbiri	Hiçbiri
Arka Taraf Kriterleri
Çatlaklar, kaz ayağı izleri, testere izleri, lekeler	Hiçbiri	Hiçbiri	Hiçbiri
Yüzey durumu	Kostik kazınmış